1.       激光功率計 型號：MHY-13228

MHY-13228型激光功率計適合用于小率激光的率測量,出廠時通常在633nm的激光波長上校準,也可按用戶的需求校準條波長。
儀器的點是探測器結構小巧,解決了般的探測器體積大,不便攜或不便于放入光路中行測試的問題。在般使用時,可以用隨儀器提供的環形磁鐵把探測器吸附在方便的地方。探測器背后還預留了兩個M3的安裝孔、可將探測器固定在某位置上使用。
顯示 雙性3-1/2位數字顯示
校準波長 633nm (或用戶的其它波長)
探測器光譜范圍 400 ~ 1100nm
探測器光敏面積 Φ10.5mm
量程 20mW、200mW
zui小分辨率 0.01mW
不確定度 ±5%±1字
電源 AC 220V±10%, 50Hz
耗 3W

2.       率半導體激光峰值率計/半導體 型號：MHY-13226

該產品廣泛應用于直接測量大口徑速半導體激光的峰值率。
探測器的接收口徑為Φ70mm, 抗激光損傷閾值
顯示器可直接數字顯示出測量的峰值率值
通過顯示器上的波形輸出接口連接示波器可以觀察脈沖波形
儀器操作簡單、體積小巧、環境適應性強

光譜響應范圍 400nm ~ 1100nm
校準波長 904nm±10nm
光敏面直徑 Φ70mm
光敏面抗激光損傷閾值(峰值率) ≥50W/cm2
峰值率測量范圍 1 ~ 200W
zui小分辨率 0.1W
波形響應時間 ≤10ns
被測激光重復頻率范圍 ≥10kHz
被測激光脈寬范圍 ≥50ns
不確定度 5%
電源 AC 220V±10%, 50Hz±5%
zui大耗 8W
外型尺寸(L×W×H) 探測器 240mm×180mm×120mm
顯示器 245mm×115mm×255mm
重量 ≤7.0 kg

3.      率/激光大率計 型號：MHY-13225

該產品用于率激光率的直接測量。儀器的大口徑探測器可以對光束直徑達Φ200mm的激光率行直接計量測試。別適用于經光學天線輸出激光率的測量以及在激光設備和使用現場對遠場或大口徑激光率行準確地測量。
探測器采用的經殊處理的接收面材料解決了抗激光破壞的問題
探測器光譜響應平坦可用于多種激光的測試
產品采用風冷, 冷卻無須水源, 大的擴展了使用范圍, 很好的方便了用戶

雙性3 位數字顯示 光譜范圍 400nm ~ 11um
校準波長 1064nm或10.6um
量程范圍 600W
探測器光敏面直徑 Φ200mm
zui小分辨率 1W
響應時間 ≤3.0min
恢復時間 ≤3.0min
可承受zui大激光峰值率密度 6MW/cm2
不確定度 5%
電源 AC 220V±10%, 50Hz±5%
zui大耗 50W
外型尺寸(L×W×H) 探測器 375mm×370mm×225mm
顯示器 245mm×115mm×255mm
重量 探測器 ≤16.0 kg
顯示器 ≤3.0 kg

4.   半導體激光器測試系統 型號：MHY-13224

MHY-13224系列半導體激光器測試系統是種不需附加手段, 在半導體激光器線環境條件下能直接、快速、準確測量各種輸出形式(包括直接輸出、準直輸出和光纖耦合輸出等)的半導體激光器件參量的儀器。具有測試參數范圍廣、能齊、自動化程度、操作使用方便可靠、測試度等點。尤其在大率管芯直接輸出激光參量測試方面是其它儀器所無法替代的。
該系統由探測器、采樣器、角度控制器、信號處理器、計算機等單元組成。根據用戶的測試要求選擇配置。 可以測量: 激光輸出率、電曲線(P-I)、管壓降、電曲線(V-I)、 閾值電(Ith)、作電(Io)、作電壓(Vo)、斜率效率(Es)、微分電阻(Rd)、率效率(Ep)、發射光譜(λ, δλ)。
同時，可以根據用戶需求訂制個性化產品。
入射窗孔徑 Φ15~25 mm
激光率測量范圍 0~20W、0~200W、0~2000W、0~5000W可選
不確定度 5%
作電測量范圍 0~2A、0~50A、0~150A可選
不確定度 3%
發散角測量范圍 -60~+60度
光譜測量范圍 600nm~1000nm, 分辨率 0.4nm
校準波長 808nm或用戶的其它波長
電壓測量范圍 0~4V、0~50V、0~150V可選
驅動電源 連續電源 0~2A, 4V、0~50A,40V可選
脈沖電源 0~50A、0~150A, 200V可選
  

5.        光纖研磨機   型號：MHY-13223

.◆    可各種標準光纖連接器：FC/UPC、SC/UPC、ST/UPC、LC/UPC、MU/UPC、FC/APC、SC/APC、MT-RJ、E2000等；
◆    加壓、卸載及更換夾具、研磨片方便快捷；
◆    質量穩定，返修率低；
◆    效率（可數臺并列組成線）；
◆    耗材節省，研磨成本低；
◆    可研磨其他產品。