1.    四探針測(cè)試儀 四探針檢測(cè)儀 四探針測(cè)定儀/四探針電阻率測(cè)定儀  型號(hào)：MHY-7795

MHY-7795型四探針測(cè)試是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的，用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的用儀器。
儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、度、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等點(diǎn)。
本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。

四探針測(cè)試儀 術(shù) 標(biāo) ： 

 測(cè)量范圍  電阻率：10-5～105 Ω.cm(可擴(kuò)展)；  
 方塊電阻：10-4～106 Ω/□(可擴(kuò)展)； 
 電導(dǎo)率：10-5～105 s/cm； 
 電阻：10-5～105 Ω； 
 
可測(cè)晶片直徑  140mmX150mm(配S-2A型測(cè)試臺(tái))；
 200mmX200mm(配S-2B型測(cè)試臺(tái))；
 400mmX500mm(配S-2C型測(cè)試臺(tái))； 
恒源  電量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔，各檔電連續(xù)可調(diào) 
數(shù)字電壓表  量程及表示形式：000.00～199.99mV；
 分辨力：10μV；
 輸入阻抗：>1000MΩ；
 度：±0.1% ；
 顯示：四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示；性、量程自動(dòng)顯示； 
四探針探頭基本標(biāo)  間距：1±0.01mm；
 針間緣電阻：≥1000MΩ； 
 機(jī)械游移率：≤0.3%；
 探針：碳化鎢或速鋼Ф0.5mm；
 探針壓力：5～16 牛頓(總力)； 
四探針探頭應(yīng)用參數(shù)  (見探頭附帶的合格證) 
模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差
( 按JJG508-87行)  0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字 
整機(jī)測(cè)量zui大相對(duì)誤差 (用硅標(biāo)樣片：0.01-180Ω.cm測(cè)試)≤±5% 
整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度  ≤5% 
計(jì)算機(jī)通訊接口  并口，速并行采集數(shù)據(jù)，連接電腦使用時(shí)采集數(shù)據(jù)到電腦的時(shí)間只需要1.5  秒（在 0.1mA、1mA、10mA、100mA量程檔時(shí)）。連接電腦使用時(shí)帶自動(dòng)測(cè)量  能，自動(dòng)選擇適合樣品測(cè)試電量程； 
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境  溫度：23±2℃；
 相對(duì)濕度：≤65%；
 無(wú)頻干擾；
 無(wú)強(qiáng)光直射； 

配置 主機(jī)、探針臺(tái)、四探針探頭、